TK2526系列
TK2526 四探针电阻率 / 方阻测试仪采用直流四探针开尔文四线测试原理，依托精密直流恒流源进行信号输出，有效消除引线电阻与接触电阻带来的测量误差，可精准检测各类薄层导电材料导电性能。
仪器支持自动量程切换，测试速度可达 0.2s / 次，能够同时显示方块电阻、体电阻率、电导率、电流、电压多项数据；内置零点自校正、探针断线检测功能，搭配上下限三段比较判定与声光报警，可快速区分良品与不良品，适配产线质检场景。
设备搭载 4.3 英寸彩色液晶显示屏，支持中英文双语操作，可自定义保存多组探针参数；配备 USB、RS232 丰富通讯接口，支持本地数据存储、U 盘导出以及上位机联机采集，自带数据统计与固件升级功能。
整机结构紧凑，安装摆放便捷，广泛应用于 ITO/FTO 导电玻璃、PET 导电膜、石墨烯薄膜、金属箔材、半导体硅片、导电浆料、锂电池集流体等材料检测，兼顾实验室研发与生产线批量抽检需求。
采用四探针开尔文测试方式，有效规避接触与引线电阻影响，可自动换算方阻、电阻率等参数，测量精准。
量程覆盖范围广，搭载探针接触自检功能，杜绝虚接造成错误读数，适配各类导电薄膜、金属薄片、半导体材料检测。
4.3 寸彩屏搭配中英文双语系统，支持多组探针参数保存，具备上下限分选声光报警，便于产线快速质检。
配备 RS232、USB 通讯接口，支持数据本地存储、U 盘导出与上位机联机采集，方便数据追溯与分析。
台式紧凑机身，内置精密恒流源，抗干扰能力强，兼顾实验室研发与生产线批量巡检使用。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品型号 | TK2526 四探针电阻率 / 方阻测试仪 |
| 测量原理 | 直流四探针恒流测试法（开尔文四线） |
| 测量范围 | 10μΩ・cm ～ 200kΩ・cm（电阻率） |
| 基本准确度 | ±4% |
| 测量精度 | ≤±4%（常温标准条件） |
| 信号源 | 直流精密恒流源 |
| 量程方式 | 自动量程切换 |
| 测试速度 | 约 0.2s / 次 |
| 显示结果 | 方块电阻、体电阻率、电导率、测试电流、测试电压 |
| 最大读数 | 99999 |
| 校正功能 | 内置零点自校正 |
| 比较器功能 | 上下限比较，HI/IN/LO 三段判定，声光报警 |
| 触发方式 | 内部触发、手动触发 |
| 断线检测 | 探针接触断线自动检测，弹窗告警 |
| 通讯接口 | USB Device、USB Host、RS232 |
| 显示屏 | 4.3 英寸彩色 LCD |
| 操作语言 | 中文 / 英文双语切换 |
| 标配附件 | 电源线、四探针连接线缆 |
| 可选附件 | TSK108A 直线四探针探头、测试平台、标准校准片、上位机软件 |
| 数据功能 | 本地存储、U 盘数据导出、上位机联机采集、统计分析 |
| 其他功能 | 多组参数存储、固件升级、探针参数自定义 |
| 供电方式 | AC220V |
| 外形尺寸 | 335 × 120 × 320 mm |
| 整机重量 | 约 5.5 kg |
| 适用范围 | ITO/FTO 导电玻璃、PET 导电膜、石墨烯薄膜、金属箔材、半导体硅片、导电浆料、锂电池集流体等薄层导电材料检测 |
导电薄膜：ITO/FTO 导电玻璃、PET 导电膜、石墨烯薄膜方阻检测
金属薄层：铜箔、铝箔、各类金属镀层电阻率测试
半导体材料：硅片、晶圆、导电硅材料薄层性能检测
导电浆料：银浆、碳浆等涂布导电涂层品质检验
新能源材料：锂电池集流体、导电极片来料与成品抽检
科研实验室：新材料导电性能研发测试